什么是高加速試驗(yàn)？

　　高加速試驗(yàn)分高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Test， 簡(jiǎn)稱：“HALT”)和高加速應(yīng)力篩選(Highly Accelerated Stress Screen， 簡(jiǎn)稱“HASS”)，高加速試驗(yàn)最早是美國(guó)軍方所延伸出來(lái)的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法;是幫助制造商在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和加工階段盡快獲得高可靠性的兩大有力工具。

　　其中，HALT用以暴露與產(chǎn)品設(shè)計(jì)有關(guān)的早期失效故障，同時(shí)也用于提高產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機(jī)故障的壯實(shí)度;HASS應(yīng)用于產(chǎn)品制造階段，幫助減少產(chǎn)品與制造工藝有關(guān)的早期失效率。

　　HALT采用對(duì)樣品系統(tǒng)地施加步進(jìn)應(yīng)力的方法，讓樣品承受逐步增加的環(huán)境應(yīng)力(振動(dòng)、溫度等)、附加應(yīng)力(電源周期通斷、電壓拉偏和頻率拉偏等) 和工作應(yīng)力來(lái)快速激發(fā)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷，暴露設(shè)計(jì)薄弱環(huán)節(jié)，確定產(chǎn)品的工作極限和破壞極限，從而在短期內(nèi)為產(chǎn)品改進(jìn)設(shè)計(jì)提供信息。在應(yīng)力步進(jìn)施加過(guò)程中各量級(jí)應(yīng)力可以大大超出技術(shù)規(guī)范極限。

　　HALT共分為5個(gè)主要步驟，即：低溫應(yīng)力步進(jìn)、高溫應(yīng)力步進(jìn)、高速溫度交變循環(huán)應(yīng)力、隨機(jī)振動(dòng)步進(jìn)、溫度交變循環(huán)及振動(dòng)綜合應(yīng)力步進(jìn)。HALT通過(guò)步進(jìn)、交變應(yīng)力方法，逐步將單一應(yīng)力或組合應(yīng)力施加到產(chǎn)品上，并留出足夠多的時(shí)間進(jìn)行產(chǎn)品檢測(cè)以便于故障觀測(cè)。隨著試驗(yàn)的逐步進(jìn)行，會(huì)找出產(chǎn)品的*個(gè)故障。

　　隨著試驗(yàn)的繼續(xù)進(jìn)行，步進(jìn)應(yīng)力不斷增加或步驟的變化，將出現(xiàn)第二個(gè)故障，第三個(gè)故障，直至產(chǎn)品的功能完喪失，或試驗(yàn)設(shè)備不能再繼續(xù)提供更高的應(yīng)力值輸出，此時(shí)試驗(yàn)結(jié)束，這一過(guò)程需要詳細(xì)的記錄產(chǎn)品發(fā)生變化的信息，以及出現(xiàn)的故障模式，包括發(fā)生的時(shí)間、對(duì)應(yīng)的應(yīng)力的條件、故障模式以及相關(guān)參數(shù)等信息，有些產(chǎn)品恢復(fù)到常溫或應(yīng)力消除后仍正常工作，有些產(chǎn)品則不能正常工作，由此可以判斷，HALT試驗(yàn)是一種破壞性試驗(yàn)。

　　HALT和HASS試驗(yàn)使用戶對(duì)產(chǎn)品建立了信譽(yù)，并對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量有一種期望。通過(guò)這些試驗(yàn)技術(shù)能夠在很大程度上提高產(chǎn)品質(zhì)量，增強(qiáng)產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。通過(guò)HALT增強(qiáng)了產(chǎn)品的健壯性，從而提高了產(chǎn)品的可靠性。

　　由于在生產(chǎn)試驗(yàn)階段采用了HASS，所需總試驗(yàn)時(shí)間減少了很多，從而能夠更快地打開(kāi)產(chǎn)品市場(chǎng)。應(yīng)用HALT&HASS試驗(yàn)方法后，原需花費(fèi)六個(gè)月至一年的新品可靠性試驗(yàn)，現(xiàn)僅需一周時(shí)間即可完成，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問(wèn)題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題一致，故該試驗(yàn)方式已為新產(chǎn)品上市前所必需通過(guò)的考驗(yàn)。

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